Tyck till om SwePub Sök här!
WFRF:(Engström Olof 1943 )
Sökning: WFRF:(Engström Olof 1943 ) > (2005-2009) > Extracting the rela...
Extracting the relative dielectric constant for “high-k layers”from CV measurements – errors and error propagation
-
- Buiu, Octavian (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
- Hall, S. (författare)
-
- Engström, Olof, 1943 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
- visa fler...
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2007
- 2007
- Engelska.
- Ingår i: Microelectronics Reliability. ; 47, s. 678-
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Microelectronics Reliability (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Buiu, Octavian
- Hall, S.
- Engström, Olof, ...
- Raeissi, Bahman, ...
- Lemme, Max
- Hurley, Paul
- visa fler...
- Cherkaoui, Karim
- visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
- Artiklar i publikationen
- Microelectronics ...
- Av lärosätet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
