SwePub
Tyck till om SwePub Sök här!
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-181481"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-181481" > Degradation and sel...

Degradation and self-repairing in perovskite light-emitting diodes

Teng, Pengpeng (författare)
Linköpings universitet,Elektroniska och fotoniska material,Tekniska fakulteten,Nanjing Univ Aeronaut & Astronaut, Peoples R China; Nanjing Univ Aeronaut & Astronaut, Sweden
Reichert, Sebastian (författare)
Tech Univ Chemnitz, Germany
Xu, Weidong (författare)
Linköpings universitet,Elektroniska och fotoniska material,Tekniska fakulteten
visa fler...
Yang, Shih-Chi (författare)
Swiss Fed Labs Mat Sci & Technol, Switzerland
Fu, Fan (författare)
Swiss Fed Labs Mat Sci & Technol, Switzerland
Zou, Yatao (författare)
Soochow Univ, Peoples R China
Yin, Chunyang (författare)
Linköpings universitet,Elektroniska och fotoniska material,Tekniska fakulteten
Bao, Chunxiong (författare)
Linköpings universitet,Elektroniska och fotoniska material,Tekniska fakulteten
Karlsson, Max (författare)
Linköpings universitet,Elektroniska och fotoniska material,Tekniska fakulteten
Liu, Xianjie (författare)
Norrkoping Univ, Sweden
Qin, Jiajun (författare)
Linköpings universitet,Elektroniska och fotoniska material,Tekniska fakulteten
Yu, Tao (författare)
Nanjing Univ, Peoples R China
Tress, Wolfgang (författare)
Zurich Univ Appl Sci, Switzerland
Yang, Ying (författare)
Nanjing Univ Aeronaut & Astronaut, Peoples R China; Nanjing Univ Aeronaut & Astronaut, Sweden
Sun, Baoquan (författare)
Soochow Univ, Peoples R China
Deibel, Carsten (författare)
Tech Univ Chemnitz, Germany
Gao, Feng (författare)
Linköpings universitet,Elektroniska och fotoniska material,Tekniska fakulteten
visa färre...
 (creator_code:org_t)
Elsevier, 2021
2021
Engelska.
Ingår i: Matter. - : Elsevier. - 2590-2393 .- 2590-2385. ; 4:11, s. 3710-3724
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • One of the most critical challenges in perovskite light-emitting diodes (PeLEDs) lies in poor operational stability. Although field dependent ion migration is believed to play an important role in the operation of perovskite optoelectronic devices, a complete understanding of how it affects the stability of PeLEDs is still missing. Here, we report a unique self-repairing behavior that the electroluminescence of moderately degraded PeLEDs can almost completely restore to their initial performance after resting. We find that the accumulated halides within the hole transport layer undergo back diffusion toward the surface of the perovskite layer during resting, repairing the vacancies and thus resulting in electroluminescence recovery. These findings indicate that one of the dominant degradation pathways in PeLEDs is the generation of halide vacancies at perovskite/hole transport layer interface during operation. We thus further passivate this key interface, which results in a high external quantum efficiency of 22.8% and obviously improved operational stability.

Ämnesord

NATURVETENSKAP  -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

  • Matter (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy