SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:b834cc90-abf6-4517-afe7-a7413d4051b6"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:b834cc90-abf6-4517-afe7-a7413d4051b6" > Reliability analysi...

Reliability analysis of embedded chip technique with design of experiment methods

Lu, Xiuzhen (författare)
Chen, Liu, 1973 (författare)
Chalmers University of Technology,Chalmers tekniska högskola
Cheng, Zhaonian, 1942 (författare)
visa fler...
Liu, Johan, 1960 (författare)
Chalmers University of Technology,Chalmers tekniska högskola
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2005
2005
Engelska.
Ingår i: 2005 International Symposium on Electronics Materials and Packaging. ; , s. pp43-49
  • Konferensbidrag (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
kon (ämneskategori)

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Lu, Xiuzhen
Chen, Liu, 1973
Cheng, Zhaonian, ...
Liu, Johan, 1960
Artiklar i publikationen
Av lärosätet
Chalmers tekniska högskola

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy