SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "WFRF:(Degraeve R) "

Sökning: WFRF:(Degraeve R)

  • Resultat 1-2 av 2
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  •  
2.
  • Kaczer, B., et al. (författare)
  • Impact of gate-oxide breakdown of varying hardness on narrow and wide nFET's
  • 2004
  • Ingår i: Annu Proc Reliab Phys Symp. ; , s. 79-83
  • Konferensbidrag (refereegranskat)abstract
    • The soft gate-oxide breakdown event is observed to have negligible impact on the intrinsic parameters of even a narrow nFET. However, during subsequent wear-out of the breakdown path a significant impact of gate-to-channel breakdowns on nFET characteristics is found. It is also shown that i) the effect of voltage stress on gate oxide and ii) apparent electrical effects have to be corrected for to properly understand the intrinsic nature of the breakdown.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-2 av 2

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy