SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "WFRF:(Li Ange) "

Sökning: WFRF:(Li Ange)

  • Resultat 1-2 av 2
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  • Aad, G., et al. (författare)
  • 2013
  • Ingår i: Journal of High Energy Physics. - 1029-8479 .- 1126-6708. ; :3
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
  •  
2.
  • Tian, Kai, et al. (författare)
  • Comprehensive Characterization of the 4H-SiC Planar and Trench Gate MOSFETs From Cryogenic to High Temperature
  • 2019
  • Ingår i: IEEE Transactions on Electron Devices. - : IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC. - 0018-9383 .- 1557-9646. ; 66:10, s. 4279-4286
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)abstract
    • In this article, the static, dynamic, and short-circuit properties of 1.2-kV commercial 4H-SiC planar and trench gate metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) are compared and analyzed in a wide temperature range from 90 to 493 K. The temperature-dependent specific ON-resistance (Rsp-ON) and threshold voltage (V-th) are analyzed in relation to the density of the interface state. The turn-on rise and turn-off fall times (T-r and T-f) and the corresponding energy loss (E-r and E-f) are extracted from a double-pulse test from cryogenic to high temperature and analyzed. The short-circuit capability of the two structures is studied at low temperature for the first time. The comprehensive comparison and analysis of the planar and trench gate MOSFET versus temperature in this work show the importance to study applications with SiC MOSFETs in a wide temperature range, especially for the cryogenic temperatures.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-2 av 2

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy