| 1. |
- Blom, Martin, et al.
(författare)
-
Företaget och dess roll(er) i samhället - fallet Findus
- 2016
-
Ingår i: Organisation & Samhälle. - Stockholm. - 2001-9114 .- 2002-0287. ; :2, s. 4-9
-
Tidskriftsartikel (populärvet., debatt m.m.)abstract
- Man kan se nedläggningen av Findus i Bjuv på många olika sätt och ur flera olika perspektiv.
|
|
| 2. |
- Blom, Martin, et al.
(författare)
-
The (In)voluntary follower
- 2020
-
Ingår i: Leadership. - : Sage Publications. - 1742-7150 .- 1742-7169. ; 16:2, s. 163-179
-
Tidskriftsartikel (refereegranskat)abstract
- An important assumption when it comes to leader-follower relationships is that compliance and subordination are basically voluntary. In this article, we problematize and develop this assumption and discuss different circumstances in which voluntariness in terms of followership may be compromised. Based on this discussion, we also suggest a tentative model of follower voluntariness, indicating dimensions in which voluntariness can be infringed upon and followership corroded and when it might be more productive to depict an asymmetrical relationship as something else than followership.
|
|
| 3. |
- Brink, Jan-Olof, et al.
(författare)
-
Introduktion till EMC
- 2017
-
Bok (populärvet., debatt m.m.)abstract
- All elektronik stör eller störs av radiovågor och elektromagnetiska fält. EMC – elektromagnetisk kompatibilitet – handlar om förmågan hos en apparat eller utrustning att fungera i sin elektromagnetiska omgivning utan att orsaka oacceptabla störningar. EMC är ett komplext ämne som det råder stor okunskap om i vårt samhälle. Många gånger upptäcks brister i EMC sent i processen och medför då kostsamma förseningar och problem. Det är därför viktigt att man redan på ett tidigt stadium tar hänsyn till EMC-direktiv och följer de lagar och regler som finns. I Introduktion till EMC beskriver författarna ämnet på ett enkelt, övergripande och lättfattligt sätt. Innehållet är upplagt så att boken både kan användas som ett uppslagsverk och läsas i utbildningssyfte. Introduktion till EMC är tänkt som en första introduktion till EMC-området och som läsare behöver du inte ha några speciella förkunskaper, endast en grundläggande förståelse för ellära.
|
|
| 4. |
- Forslund, Magnus, 1969-, et al.
(författare)
-
Framtidens ledarskap(ande) i Småland
- 2023
-
Ingår i: Ledarskap på småländska. - Växjö : Linnaeus University Press. - 9789180820417 ; , s. 275-281
-
Bokkapitel (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
|
|
| 5. |
- Forslund, Magnus, 1969-
(författare)
-
Ledarskap för ökad innovationsförmåga : exemplet Småland
- 2019
-
Bok (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)abstract
- Ordet innovation har nästan blivit det nya svarta. Fokus ligger på hur företag, offentliga organisationer och ideella föreningar kan bli mer innovativa. Boken presenterar teorier, modeller, metoder och verktyg som i projektet Ledarskap i Småland använts för att hjälpa ledare att öka organisationens innovationsförmåga. Citat och exempel från ledares vardag i framför allt små och medelstora organisationer används som illustrationer. Med begrepp som 0,5-steg och att tända många eldar riktar sig boken i första hand till praktiskt verksamma ledare – i och utanför Småland. Detta är projektets andra bok. Den första heter Småländskt ledarskap – inledande betraktelser.
|
|
| 6. |
- Forslund, Magnus, 1969-, et al.
(författare)
-
Ledarskapsutveckling genom utmanande samtal
- 2023
-
Ingår i: Ledarskap på småländska. - Växjö : Linnaeus University Press. - 9789180820417 ; , s. 217-233
-
Bokkapitel (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
|
|
| 7. |
|
|
| 8. |
- Johansson, Mikael, et al.
(författare)
-
ZrO2 and ZrO2/Y2O3 gate dielectrics prepared by evaporation and annealing processes
- 2002
-
Ingår i: ASDAM '02. Conference Proceedings. Fourth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. ; , s. 279-
-
Konferensbidrag (refereegranskat)abstract
- The electrical characteristics of MOS capacitors with ZrO2 gate dielectric prepared by e-beam evaporation of Zr or Yttrium Stabilized Zirconia (YSZ) and subsequent thermal treatment are reported. With this method dielectrics corresponding to an equivalent oxide thickness (EOT) of 1.9 nm and a relative dielectric constant of approximately 15 have been prepared. The effect of annealing on Zr incorporation into the Si substrate is investigated SIMS analysis showed no signs of Zr diffusion in the substrate at temperatures as high as 900°C and that significant diffusion from the dielectric layer occur only at 1100°C
|
|
| 9. |
- Johansson, Mikael, et al.
(författare)
-
ZrO2 gate dielectrics prepared by e-beam deposition of Zr and YSZ films and post annealing processes
- 2002
-
Ingår i: ESSDERC 2002. Proceedings of the 32nd European Solid-State Device Research Conference. ; , s. 419-
-
Konferensbidrag (refereegranskat)abstract
- In this paper we present the electrical performance of MOS capacitors with ZrO2 gate dielectric prepared by e-beam evaporation of zirconium and yttrium stabilized zirconia (YSZ) and subsequent thermal treatment. To this stage we have reached an equivalent oxide thickness (EOT) of 1.9 nm. The effect of post-oxidation annealing on Zr incorporation into the Si substrate is investigated. SIMS analysis showed no signs of Zr diffusion in the substrate at temperatures as high as 900°C and that significant diffusion occurs only at 1100°C
|
|
| 10. |
|
|
