SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "WFRF:(Hellenbrand M.) "

Sökning: WFRF:(Hellenbrand M.)

  • Resultat 1-4 av 4
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  • Biester, EM, et al. (författare)
  • Identification of avian wax synthases
  • 2012
  • Ingår i: BMC biochemistry. - : Springer Science and Business Media LLC. - 1471-2091. ; 13, s. 4-
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
  •  
2.
  • Hellenbrand, J, et al. (författare)
  • Fatty acyl-CoA reductases of birds
  • 2011
  • Ingår i: BMC biochemistry. - : Springer Science and Business Media LLC. - 1471-2091. ; 12, s. 64-
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
  •  
3.
  • Memisevic, E., et al. (författare)
  • Vertical InAs/GaAsSb/GaSb tunneling field-effect transistor on Si with S = 48 mV/decade and Ion = 10 μA/μm for Ioff = 1 nA/μm at VDS = 0.3 V
  • 2017
  • Ingår i: 2016 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2016. - 9781509039012 ; , s. 1-19
  • Konferensbidrag (refereegranskat)abstract
    • We present a vertical nanowire InAs/GaAsSb/GaSb TFET with a highly scaled InAs diameter (20 nm). The device exhibits a minimum subthreshold swing of 48 mV/dec. for Vds = 0.1-0.5 V and achieves an Ion = 10.6 μA/μm for Ioff = 1 nA/μm at Vds = 0.3 V. The lowest subthreshold swing achieved is 44 mV/dec. at Vds= 0.05 V. Furthermore, a benchmarking is performed against state-of-the-art TFETs and MOSFETs demonstrating a record high I60 and performance benefits for Vds between 0.1 and 0.3 V.
  •  
4.
  • Möhle, C., et al. (författare)
  • 1/f and RTS noise in InGaAs nanowire MOSFETs
  • 2017
  • Ingår i: Microelectronic Engineering. - : Elsevier BV. - 0167-9317. ; 178, s. 52-55
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)abstract
    • Low-frequency noise measurements were performed on high-performance InGaAs nanowire MOSFETs. 1/f noise measurements show number fluctuations, rather than mobility fluctuations, as the dominant noise source. The minimum equivalent input gate voltage noise reported here is 80 μm2μV2/Hz, among the lowest values for III-V FETs, and showing the feasibility of a high-quality, low trap density, high-k gate oxide on InGaAs.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-4 av 4

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy