SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "WFRF:(Cherkaoui Karim) srt2:(2020-2023)"

Sökning: WFRF:(Cherkaoui Karim) > (2020-2023)

  • Resultat 1-1 av 1
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  • La Torraca, Paolo, et al. (författare)
  • Electrically active defects in Al2O3-InGaAs MOS stacks at cryogenic temperatures
  • 2023
  • Ingår i: 2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop, IIRW 2023. - 2374-8036 .- 1930-8841. - 9798350327274
  • Konferensbidrag (refereegranskat)abstract
    • The effects of defects in In0.47Ga0.53As/Al2O3/Ni metal-oxide-semiconductor (MOS) stacks at cryogenic temperatures are investigated. The MOS stacks exhibit a hysteresis in the capacitance-voltage (CV) curve, both at room temperature and at 100K, indicating the presence of effective charge capture/emission dynamics in the oxide even at cryogenic temperatures. Border traps (BTs) in the Al2O3 close to the In0.47Ga0.53As/Al2O3 interface are recognized as the best candidate for explaining the experimental CV. The hysteresis shape and its temperature dependence are used to profile the oxide defects' properties, which allow correctly predicting the MOS stacks CV and conductance-voltage (GV) frequency dispersions and gaining insights on the hysteresis dynamics.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-1 av 1
Typ av publikation
konferensbidrag (1)
Typ av innehåll
refereegranskat (1)
Författare/redaktör
Wernersson, Lars-Eri ... (1)
Hurley, Paul (1)
Cherkaoui, Karim (1)
La Torraca, Paolo (1)
Padovani, Andrea (1)
Larcher, Luca (1)
Lärosäte
Lunds universitet (1)
Språk
Engelska (1)
Forskningsämne (UKÄ/SCB)
Naturvetenskap (1)
År

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy