SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-41964" "

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-41964"

  • Resultat 1-1 av 1
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  • Hahn, S., et al. (författare)
  • Contact-Less Electrical Defect Characterization of Semi-Insulating 6H-SiC Bulk Material
  • 2009
  • Ingår i: Materials Science Forum Vols. 600-603. - : Trans Tech Publications. ; , s. 405-408
  • Konferensbidrag (refereegranskat)abstract
    • The novel technique microwave detected photo induced current transient spectroscopy (MD-PICTS) was applied to semi-insulating 6H-SiC in order to investigate the properties of inherent defect levels. Defect spectra can be obtained in the similar way to conventional PICTS and DLTS. However, there is no need for contacting the samples, which allows for non-destructive and spatially resolved electrical characterization. This work is focused on the investigation of semi-insulating 6H-SiC grown under different C/Si-ratios. In the corresponding MD-PICTS spectra several shallow defect levels appear in the low temperature range. However the peak assignment needs further investigation. Additionally different trap reemission dynamics are obtained for higher temperatures, which are supposed to be due to different compensation effects.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-1 av 1

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy