SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "onr:"swepub:oai:DiVA.org:kth-23211" "

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:kth-23211"

  • Resultat 1-1 av 1
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  • Suvar, Erdal, et al. (författare)
  • Characterization of leakage current related to a selectively grown collector in SiGeC heterojunction bipolar transistor structure
  • 2004
  • Ingår i: Applied Surface Science. - : Elsevier BV. - 0169-4332 .- 1873-5584. ; 224:1-4, s. 336-340
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)abstract
    • Sources of base-collector and base-emitter leakage current in a SiGeC-based heterojunction bipolar transistor (HBT) with a selectively grown and chemical-mechanical polished (CMP) collector are discussed. Transmission electron microscopy and electrical measurement have been applied to investigate the leakage current. It has been demonstrated that the edge-located defects generated by selective epitaxy process are the origin of the junction leakage.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-1 av 1
Typ av publikation
tidskriftsartikel (1)
Typ av innehåll
refereegranskat (1)
Författare/redaktör
Radamson, Henry H. (1)
Östling, Mikael (1)
Malm, B. Gunnar (1)
Grahn, Jan V. (1)
Haralson, Erik (1)
Wang, Yong-Bin (1)
visa fler...
Suvar, Erdal (1)
visa färre...
Lärosäte
Kungliga Tekniska Högskolan (1)
Språk
Engelska (1)
Forskningsämne (UKÄ/SCB)
Teknik (1)
År
2004 (1)

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy