SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-47280" "

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-47280"

  • Resultat 1-1 av 1
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  • Paskova, Tanja, et al. (författare)
  • Defect and stress relaxation in HVPE-GaN films using high temperature reactively sputtered AlN buffer
  • 2001
  • Ingår i: Journal of Crystal Growth. - 0022-0248 .- 1873-5002. ; 230:3-4, s. 381-386
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)abstract
    • The influence of high temperature buffer layers on the structural characteristics of GaN grown by hydride vapour phase epitaxy on sapphire was investigated. Strain relaxation as well as mismatch-induced defect reduction in thick GaN layers grown on AlN buffer was microscopically identified using cathodoluminescence and micro-Raman spectroscopy in cross-section of the films. The results were correlated with photoluminescence and Hall-effect data of layers with different thicknesses. These relaxation processes were suggested to account for the specific defect distribution in the buffers revealed by high-resolution X-ray diffraction and transmission electron microscopy. © 2001 Elsevier Science B.V. All rights reserved.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-1 av 1

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy