SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

(WFRF:(Avasthi S.))
 

Sökning: (WFRF:(Avasthi S.)) > (2018) > Modifications in st...

Modifications in structural, optical and electrical properties of epitaxial graphene on SiC due to 100 MeV silver ion irradiation

Kaushik, Priya Darshni (författare)
Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska fakulteten,Jamia Millia Islamia, India
Aziz, Anver (författare)
Jamia Millia Islamia, India
Siddiqui, Azher M. (författare)
Jamia Millia Islamia, India
visa fler...
Greczynski, Grzegorz (författare)
Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska fakulteten
Jafari, Mohammad Javad, 1984- (författare)
Linköpings universitet,Molekylär fysik,Tekniska fakulteten
Lakshmi, G. B. V. S. (författare)
Interuniv Accelerator Centre, India
Avasthi, D. K. (författare)
Interuniv Accelerator Centre, India; Amity Institute Nanotechnol, India
Syväjärvi, Mikael (författare)
Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska fakulteten
Yazdi, Gholamreza (författare)
Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska fakulteten
visa färre...
 (creator_code:org_t)
Pergamon Press, 2018
2018
Engelska.
Ingår i: Materials Science in Semiconductor Processing. - : Pergamon Press. - 1369-8001 .- 1873-4081. ; 74, s. 122-128
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Epitaxial graphene (EG) on silicon carbide (SiC) is a combination of two robust materials that are excellent candidates for post silicon electronics. In this work, we systematically investigate structural changes in SiC substrate as well as graphene on SiC and explore the potential for controlled applications due to 100 MeV silver swift heavy ion (SHI) irradiation. Raman spectroscopy showed fluence dependent decrease in intensity of first and second order modes of SiC, along with decrease in Relative Raman Intensity upon ion irradiation. Similarly, Fourier-transform infrared (FTIR) showed fluence dependent decrease in Si-C bond intensity with presence of C = O, Si-O-Si, Si-Si and C-H bond showing introduction of vacancy, substitutional and sp(3) defects in both graphene and SiC. C1s spectra in XPS shows decrease in C = C graphitic peak and increase in interfacial layer following ion irradiation. Reduction in monolayer coverage of graphene after ion irradiation was observed by Scanning electron microscopy (SEM). Further, UV-Visible spectroscopy showed increase in absorbance of EG on SiC at increasing fluence. I-V characterization showed fluence dependent increase in resistance from 62.9 O in pristine sample to 480.1 Omega in sample irradiated at 6.6 x 10(12) ions/cm(2) fluence. The current study demonstrates how SHI irradiation can be used to tailor optoelectronic applicability of EG on SiC.

Ämnesord

NATURVETENSKAP  -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)

Nyckelord

Ion irradiation; Fluence; Epitaxial graphene; Silicon carbide; Optoelectronic

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy