SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "(WFRF:(Salem H.)) srt2:(2005-2009)"

Sökning: (WFRF:(Salem H.)) > (2005-2009)

  • Resultat 1-2 av 2
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  • Salem, MA, et al. (författare)
  • Atomic force microscope current-imaging study for current density through nanocrystalline silicon dots embedded in SiO2
  • 2005
  • Ingår i: Japanese Journal of Applied Physics. - : Japan Society of Applied Physics / Japanese Journal of Applied Physics; 1999. - 0021-4922 .- 1347-4065. ; 44:07-Jan, s. L88-L91
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)abstract
    • Simultaneous surface and current imaging through nanocrystalline silicon (nc-Si) dots embedded in SiO2 was achieved using a contact mode atomic force microscope (AFM) under a tip-to-sample bias voltages of about 5 V. The obtained images were then analyzed using a one-dimensional model of current density, which took account of the spherical shape of the nc-Si dots, the substrate orientation and the sample bias. A comparison between the experimental and theoretical results showed a fair agreement when the current pass through the dot center, although a large difference was found at a higher voltage. In addition, our model predicted tunneling current oscillations due to a change in tip position relative to the dot center.
  •  
2.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-2 av 2

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy