SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Mazo I)
 

Sökning: WFRF:(Mazo I) > (2011) > High-temperature cr...

High-temperature crystal structure and transport properties of the layered cuprates Ln(2)CuO(4), Ln=Pr, Nd and Sm

Kaluzhskikh, M. S. (författare)
Kazakov, S. M. (författare)
Mazo, G. N. (författare)
visa fler...
Istomin, S. Ya. (författare)
Antipov, E. V. (författare)
Gippius, A. A. (författare)
Fedotov, Yu. (författare)
Bredikhin, S. I. (författare)
Liu, Yi (författare)
Stockholms universitet,Institutionen för material- och miljökemi (MMK)
Svensson, Gunnar (författare)
Stockholms universitet,Institutionen för material- och miljökemi (MMK)
Shen, Zhijian (författare)
Stockholms universitet,Institutionen för material- och miljökemi (MMK)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
Elsevier BV, 2011
2011
Engelska.
Ingår i: Journal of Solid State Chemistry. - : Elsevier BV. - 0022-4596 .- 1095-726X. ; 184:3, s. 698-704
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • High-temperature crystal structure of the layered cuprates Ln(2)CuO(4), Ln = Pr, Nd and Sm with tetragonal T'-structure was refined using X-ray powder diffraction data. Substantial anisotropy of the thermal expansion behavior was observed in their crystal structures with thermal expansion coefficients (TEC) along a- and c-axis changing from TEC(a)/TEC(c)approximate to 1.37 (Pr) to 0.89 (Nd) and 0.72 (Sm). Temperature dependence of the interatomic distances in Ln(2)CuO(4) shows significantly lower expansion rate of the chemical bond between Pr and oxygen atoms (O1) belonging to CuO(2)-planes (TEC(Pr-O1)= 11.7 ppm K(-1)) in comparison with other cuprates: TEC (Nd-O1)=15.2 ppm K(-1) and TEC (Sm-O1)= 15.1 ppm K(-1). High-temperature electrical conductivity of Pr(2)CuO(4) is the highest one in the whole studied temperature range (298-1173 K): 0.1-108 S/cm for Pr(2)CuO(4), 0.07-23 S/cm for Nd(2)CuO(4) and 2 X 10(-4)-9 S/cm for Sm(2)CuO(4). The trace diffusion coefficient (D(T)) of oxygen for Pr(2)CuO(4) determined by isotopic exchange depth profile (IEDP) technique using secondary ion mass spectrometry (SIMS) varies in the range 7.2 X 10(-13) Cm(2)/S (973 K) and 3.8 X 10(-10) Cm(2)/S (1173 K) which are in between those observed for the manganese and cobalt-based perovskites.

Ämnesord

NATURVETENSKAP  -- Kemi (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Chemical Sciences (hsv//eng)

Nyckelord

High-temperature crystal structure
High-temperature conductivity
Cuprates
Oxygen diffusion
SIMS

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy