SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(da Silva MP)
 

Sökning: WFRF:(da Silva MP) > (1999) > Impurity resistivit...

Impurity resistivity of the double-donor system Si : P,Bi

da Silva, AF (författare)
Inst Nacl Pesquisas Espaciais, Lab Associado Sensores & Mat, LAS, BR-12201970 Sao Jose Dos Campos, Brazil Linkoping Univ, Dept Phys & Measurement Technol, S-58183 Linkoping, Sweden Univ Fed Rio Grande Sul, Inst Fis, BR-91501970 Porto Alegre, RS, Brazil CUNY City Coll, Dept Phys, New York, NY 10031 USA
Sernelius, Bo (författare)
Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Teoretisk Fysik
de Souza, JP (författare)
Inst Nacl Pesquisas Espaciais, Lab Associado Sensores & Mat, LAS, BR-12201970 Sao Jose Dos Campos, Brazil Linkoping Univ, Dept Phys & Measurement Technol, S-58183 Linkoping, Sweden Univ Fed Rio Grande Sul, Inst Fis, BR-91501970 Porto Alegre, RS, Brazil CUNY City Coll, Dept Phys, New York, NY 10031 USA
visa fler...
Boudinov, H (författare)
Inst Nacl Pesquisas Espaciais, Lab Associado Sensores & Mat, LAS, BR-12201970 Sao Jose Dos Campos, Brazil Linkoping Univ, Dept Phys & Measurement Technol, S-58183 Linkoping, Sweden Univ Fed Rio Grande Sul, Inst Fis, BR-91501970 Porto Alegre, RS, Brazil CUNY City Coll, Dept Phys, New York, NY 10031 USA
Zheng, HR (författare)
Sarachik, MP (författare)
Inst Nacl Pesquisas Espaciais, Lab Associado Sensores & Mat, LAS, BR-12201970 Sao Jose Dos Campos, Brazil Linkoping Univ, Dept Phys & Measurement Technol, S-58183 Linkoping, Sweden Univ Fed Rio Grande Sul, Inst Fis, BR-91501970 Porto Alegre, RS, Brazil CUNY City Coll, Dept Phys, New York, NY 10031 USA
visa färre...
 (creator_code:org_t)
1999
1999
Engelska.
Ingår i: Physical Review B Condensed Matter. - 0163-1829 .- 1095-3795. ; 60:23, s. 15824-15828
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • The electrical resistivity of the shallow double-donor system Si:P,Bi, prepared by ion implantation, was investigated in the temperature range from 1.7 to 300 K. Good agreement was obtained between the measured resistivities and resistivities calculated by a generalized Drude approach for the same temperatures and dopant concentrations. The critical impurity concentration for the metal-nonmetal transition for the double-doped Si:P,Bi system was found to lie between the critical concentrations of the two single-doped systems, Si:P and Si:Bi. [S0163-1829(99)11747-8].

Nyckelord

TECHNOLOGY
TEKNIKVETENSKAP

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy