In-situ electrical characterization during defect insertion in exfoliated graphene sheets with a focused gallium ion beam at room and cryogenic temperatures

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Nanoteknik (hsv//swe)

ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Nano-technology (hsv//eng)

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)

ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

Focused Ion beam

Graphene

defects

conductivity

cryogenic temperatures

Teknisk fysik med inriktning mot materialanalys

Engineering Science with specialization in Materials Analysis

Publikations- och innehållstyp

vet (ämneskategori)

ovr (ämneskategori)