SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Niehusmann P)
 

Sökning: WFRF:(Niehusmann P) > (2005-2009) > Highly selective et...

Highly selective etch process for silicon-on-insulator nano-devices

Wahlbrink, T. (författare)
Mollenhauer, T. (författare)
Georgiev, Y. M. (författare)
visa fler...
Henschel, W. (författare)
Efavi, J. K. (författare)
Gottlob, H. D. B. (författare)
Lemme, Max C., 1970- (författare)
AMO GmbH, AMICA, Aachen, Germany
Kurz, H. (författare)
Niehusmann, J. (författare)
Bolivar, P. H. (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
Elsevier BV, 2005
2005
Engelska.
Ingår i: Microelectronic Engineering. - : Elsevier BV. - 0167-9317 .- 1873-5568. ; 78-79:SI, s. 212-217
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Reactive ion etch (RIE) processes with HBr/O-2 chemistry are optimized for processing of functional nanostructures based on silicon and polysilicon. The etch rate, etch selectivity, anisotropy and sidewall roughness are investigated for specific applications. The potential of this process technology for nanoscale functional devices is demonstrated by MOSFETs with 12 nm gate length and optimized photonic devices with ultrahigh Q-factors.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Nanoteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Nano-technology (hsv//eng)

Nyckelord

HBr
ICP-RIE
SOI
EJ-MOSFET
microring resonator
silicon photonics

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy