SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Stagarescu CB)
 

Sökning: WFRF:(Stagarescu CB) > (1996) > Electronic structur...

Electronic structure of GaN measured using soft-x-ray emission and absorption

Stagarescu, CB (författare)
Uppsala universitet
Duda, LC (författare)
Uppsala universitet
Smith, KE (författare)
Uppsala universitet
visa fler...
Guo, JH (författare)
Uppsala universitet
Nordgren, J (författare)
Uppsala universitet
Singh, R (författare)
Uppsala universitet
Moustakas, TD (författare)
Uppsala universitet
visa färre...
 (creator_code:org_t)
AMER INST PHYSICS, 1996
1996
Engelska.
Ingår i: PHYSICAL REVIEW B-CONDENSED MATTER. - : AMER INST PHYSICS. - 0163-1829. ; 54:24, s. 17335-17338
  • Tidskriftsartikel (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • The electronic structure of thin-film wurtzite GaN has been studied using a combination of soft-x-ray absorption and emission spectroscopies. We have measured the elementally and orbitally resolved GaN valence and conduction bands by recording Ga L and N

Nyckelord

PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; VALENCE-BAND; FLUORESCENCE; GRAPHITE; SPECTRA; GROWTH; FILMS

Publikations- och innehållstyp

vet (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy