(WFRF:(Janzén Erik 1954 )) pers:(Ohshima T.)
Sökning: (WFRF:(Janzén Erik 1954 )) pers:(Ohshima T.) > EPR identification ...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
EPR identification of intrinsic defects in SiC / J. Isoya, T. Umeda, N. Mizuochi, N. T. Son, E. Janzén and T. Ohshima.
- Isoya, J.
- Umeda, T.
- Mizuochi, N.
- visa fler...
- Nguyen, Son Tien, 1953-
- Janzén, Erik, 1954-
- Ohshima, T.
- visa färre...
- 2010
- 2010
- Engelska.
- Ingår i: Silicon carbide. Volume 1, Growth, defects, and novel applications [Elektronisk resurs]. - c2010.. - 9783527629053 ; S. 147-179
- swepub:Mat__t
Hitta via bibliotek
- Silicon carbide. Volume 1, Growth, defects, and novel applications [Elektronisk ... (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Isoya, J.
- Umeda, T.
- Mizuochi, N.
- Nguyen, Son Tien ...
- Janzén, Erik, 19 ...
- Ohshima, T.
- Artiklar i publikationen
- Silicon carbide. ...
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
