SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Liu Johan 1960)
 

Sökning: WFRF:(Liu Johan 1960) > (2010-2014) > Bok > Reliability of Micr...

Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems

Liu, Johan, 1960 (författare)
Chalmers University of Technology, Sweden,Chalmers tekniska högskola
Salmela, Olli (författare)
Nokia Siemens Networks, Finland
Särkkä, Jussi (författare)
Nokia Siemens Networks, Finland
visa fler...
Morris, James E (författare)
Portland State University, USA
Tegehall, Per-Erik (författare)
RISE,IVF
Andersson, Cristina, 1969 (författare)
Chalmers University of Technology, Sweden
visa färre...
 (creator_code:org_t)
ISBN 9781441957597
New York, NY : Springer-Verlag New York, 2011
Engelska.
  • Bok (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Innehållsförteckning Abstract Ämnesord
Stäng  
No table of content available
No summary available

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

Electronics and Microelectronics
Instrumentation
Optical Materials
Electronic Materials
Quality Control
Reliability
Safety and Risk
Nanotechnology
Microengineering

Publikations- och innehållstyp

vet (ämneskategori)
bok (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy