onr:"99785"
Sökning: onr:"99785" > Semiconductor measu...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975] : surface analysis for silicon devices /A. George Lieberman [ed.].
- BokKonferensEngelska1976
Förlag, utgivningsår, omfång ...
- Washington,1976
- 239 s.diagr., ill., tab.
Nummerbeteckningar
- LIBRIS-ID:99785
Kompletterande språkuppgifter
- Språk:engelska
Klassifikation
- DDC:537.622 028 7
- QC 611
- TK 6650
- Uccdkssb/8 (machine generated)
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
- Lieberman, A. George (redaktör/utgivare)
- ARPA/NBS workshop(4 :1975)Gaithersburg :
- ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975]
- Surface analysis for silicon devices
Sammanhörande titlar
- Del av/supplement till:Semiconductor measurement technologyWashington, 1974-National Bureau of Standards special publication ; 400:1-
Bibliotekens lokala klassifikation, anmärkningar och ämnesord
- ZQC 611
- ZTK 6650
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Lieberman, A. Ge ...
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
