Sökning: onr:"99785" > Semiconductor measu...
Fältnamn | Indikatorer | Metadata |
---|---|---|
000 | 01425cam a22003377a 4500 | |
001 | 99785 | |
003 | SE-LIBR | |
005 | 20180604102444.0 | |
008 | 011211s1976 xxu|||||||||||100 0|eng|c | |
035 | 9 9902672655 | |
040 | a Te a | |
041 | a eng | |
082 | 4 | a 537.622 028 7 |
084 | a QC 611 | |
084 | a TK 6650 | |
084 | a Uccd2 kssb/8 (machine generated) | |
245 | 1 0 | a Semiconductor measurement technologyp ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975] : surface analysis for silicon devices /c A. George Lieberman [ed.]. |
264 | 1 | a Washington,c 1976 |
300 | a 239 s.b diagr., ill., tab. | |
599 | a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer | |
700 | 1 | a Lieberman, A. George4 edt |
711 | 2 | a ARPA/NBS workshopn (4 :d 1975)c Gaithersburg : |
740 | 0 | a ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975] |
740 | 0 | a Surface analysis for silicon devices |
772 | 0 0 | t Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 9900958608 |
887 | a {"@id":"tb4pxt151pvc619","modified":"2018-06-04T10:24:44.587+02:00","checksum":"27666757275"}2 librisxl | |
841 | 5 Za x ab 020110||0000||||4000||||||000000e u | |
050 | 4 | 5 Za QC 611 |
050 | 4 | 5 Za TK 6650 |
852 | 5 Zb Z | |
887 | 5 Za {"@id":"049ld7150fzth7w","modified":"2019-05-08T11:09:07.98+02:00","checksum":"58078827315"}2 librisxl |
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy