Sökning: onr:"99795" > Semiconductor measu...
Fältnamn | Indikatorer | Metadata |
---|---|---|
000 | 01595cam a22003737a 4500 | |
001 | 99795 | |
003 | SE-LIBR | |
005 | 20180604102444.0 | |
008 | 011211s1982 xxu|||||||||||000 0|eng|c | |
035 | 9 990375373X | |
040 | a Te a | |
041 | a eng | |
080 | a 621.315.592(021) | |
080 | a 53.08(021) | |
082 | 4 | a 537.622 028 7 |
084 | a Uccd2 kssb/8 (machine generated) | |
245 | 1 0 | a Semiconductor measurement technologyp Interlaboratory study on linewidth measurments for antireflective chromium photomasks /c John M. Jerke .. |
264 | 1 | a Washington,c 1982 |
300 | a 183 s.b diagr., ill., tab. | |
599 | a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer | |
650 | 4 | a Halvledare: elektroteknik |
700 | 1 | a Jerke, John M.4 oth |
740 | 0 | a Interlaboratory study on linewidth measurments for antireflective chromium photomasks |
772 | 0 0 | t Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 9900958608 |
887 | a {"@id":"5ng185ch1vrj7cj","modified":"2018-06-04T10:24:44.649+02:00","checksum":"70240906468"}2 librisxl | |
841 | 5 La x ab 020110||0000||||4000||||||000000e u | |
080 | 5 La 621.315.592(021) | |
080 | 5 La 53.08(021) | |
650 | 4 | 5 La Halvledare: elektroteknik |
650 | 4 | 5 La Mätteknik |
852 | 5 Lb Lh pPj 3521:400 | |
852 | 5 L8 1.1\cb Lh pPj 3521:, 400:74 | |
866 | 5 La 1974-x Vissa delar specificerade | |
887 | 5 La {"@id":"glr2vphm03cmc99","modified":"2003-01-23T16:34:28+01:00","checksum":"40564237170"}2 librisxl |
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy