Fältnamn | Indikatorer | Metadata |
---|---|---|
000 | 01112nam a22002897 r4500 | |
001 | 99797 | |
003 | SE-LIBR | |
008 | 011211s1984 xxu 000 0 eng c | |
035 | 9 9904668035 | |
040 | a L | |
080 | a 621.315.592(021) | |
080 | a 53.08(021) | |
245 | 0 0 | a Semiconductor measurement technology.p TXYZ: a program for semiconductor IC thermal analysis /c John Albers |
260 | a Washington,c 1984 | |
300 | a iv, 61 s. | |
599 | a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer | |
650 | 4 | a Halvledare: elektroteknik |
740 | 0 | a TXYZ: a program for semiconductor IC thermal analysis |
772 | 0 0 | 7 nnt Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 99009586089 76 |
841 | 5 La xa ab 0201070u 0 4000uu |000000e 3 | |
080 | 5 La 621.315.592(021) | |
080 | 5 La 53.08(021) | |
650 | 4 | 5 La Halvledare: elektroteknik |
650 | 4 | 5 La Mätteknik |
852 | 5 Lb Lh pPj 3521:400 | |
852 | 5 L8 1.1\cb Lh pPj 3521:, 400:76 | |
866 | 5 La 1974-x Vissa delar specificerade |
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy