SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:hh-202"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:hh-202" > Reduced effective t...

  • Fu, Y.Physical Electronics and Photonics, Department of Physics, Chalmers University of Technology and Gothenburg University, Göteborg, Sweden (författare)

Reduced effective temperature of hot electrons in nano-sized metal-oxide-semiconductor field-effect transistors

  • Artikel/kapitelEngelska2003

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Berlin / Heidelberg :Springer Berlin/Heidelberg,2003
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:hh-202
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:hh:diva-202URI
  • https://doi.org/10.1007/s00339-003-2200-yDOI
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-59179URI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • Hot electron effects have been extensively studied in metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs). The importance of these effects when the dimensions are drastically reduced has so far not been thoroughly investigated. The scope of this paper is therefore to present a detailed study of the effective temperature of excess electrons in nanoscale MOSFETs by solving coupled Schrödinger and Poisson equations. It is found that the increased doping levels and reduced junction depths lead to substantially higher local Fermi levels in the source and drain regions. As a result, the temperature difference between electrons injected into the drain and local electrons is reduced. The scaling of the gate oxide thickness, as well as the drain voltage furthermore reduces the electron temperature in the drain. The detrimental effects of hot electron injection are therefore expected to be decreased by scaling the MOSFET.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Willander, MagnusPhysical Electronics and Photonics, Department of Physics, Chalmers University of Technology and Gothenburg University, Göteborg, Sweden(Swepub:liu)magwi72 (författare)
  • Pettersson, Håkan,1962-Högskolan i Halmstad,Halmstad Embedded and Intelligent Systems Research (EIS),Halmstad University(Swepub:hh)hape (författare)
  • Physical Electronics and Photonics, Department of Physics, Chalmers University of Technology and Gothenburg University, Göteborg, SwedenHalmstad Embedded and Intelligent Systems Research (EIS) (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Applied Physics ABerlin / Heidelberg : Springer Berlin/Heidelberg77:6, s. 799-8030947-83961432-0630

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Fu, Y.
Willander, Magnu ...
Pettersson, Håka ...
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Annan teknik
Artiklar i publikationen
Applied Physics ...
Av lärosätet
Högskolan i Halmstad
Linköpings universitet

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy