Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:kth-212130" >
Characterizing 3D f...
Characterizing 3D floating gate NAND flash
-
Xiong, Q. (författare)
-
Wu, F. (författare)
-
- Lu, Zhonghai (författare)
- KTH,Elektronik
-
visa fler...
-
Zhu, Y. (författare)
-
Zhou, Y. (författare)
-
Chu, Y. (författare)
-
Xie, C. (författare)
-
Huang, P. (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2017-06-05
- 2017
- Engelska.
-
Ingår i: SIGMETRICS 2017 Abstracts - Proceedings of the 2017 ACM SIGMETRICS / International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems. - New York, NY, USA : Association for Computing Machinery (ACM). - 9781450350327 ; , s. 31-32
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- In this paper, we characterize a state-of-The-Art 3D oating gate NAND ash memory through comprehensive experiments on an FPGA platform. Then, we present distinct observations on performance and reliability, such as operation latencies and various error patterns. We believe that through our work, novel 3D NAND ash-oriented designs can be developed to achieve better performance and reliability.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Data- och informationsvetenskap -- Datorteknik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Computer and Information Sciences -- Computer Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- Computer science
- Computers
- Measurements
- Error patterns
- Floating gates
- Fpga platforms
- NAND Flash
- Performance and reliabilities
- State of the art
- NAND circuits
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- kon (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas