SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:kth-50570"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:kth-50570" > Comparative study o...

  • Abermann, S. (författare)

Comparative study on the impact of TiN and Mo metal gates on MOCVD-grown HfO2 and ZrO2 high-kappa dielectrics for CMOS technology

  • Artikel/kapitelEngelska2007

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • AIP,2007
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:kth-50570
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-50570URI
  • https://doi.org/10.1063/1.2729883DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:kon swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • QC 20120228
  • We compare metal oxide semiconductor capacitors, investigating Titanium-Nitride and Molybdenum as gate materials, as well as metal organic chemical vapor deposited ZrO2 and HfO2 as high-kappa dielectrics, respectively. The impact of different annealing steps on the electrical characteristics of the various gate stacks is a further issue. The positive effect of post metallization annealing in forming gas atmosphere as well as observed mid-gap pinning of TiN and Mo metal gates is presented.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Sjoblom, G. (författare)
  • Efavi, J. (författare)
  • Lemme, Max C.,1970-AMO GmbH, AMICA, Aachen, Germany(Swepub:kth)u1m2eozy (författare)
  • Olsson, J. (författare)
  • Bertagnolli, E. (författare)
  • AMO GmbH, AMICA, Aachen, Germany (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Physics of Semiconductors, Pts A and B: AIP, s. 293-2949780735403970

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy