SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-106108"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-106108" > Cautionary note on ...

  • Cruchley, S.University of Birmingham, England (författare)

Cautionary note on use of focused ion beam sectioning as technique for characterising oxidation damage in Ni based superalloys

  • Artikel/kapitelEngelska2014

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Science Reviews 2000 Ltd.2014
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:liu-106108
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-106108URI
  • https://doi.org/10.1179/0960340913Z.0000000004DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • Previous observations on Ni based superalloys, obtained through the use of focused ion beam (FIB) sample preparation and imaging, have reported the presence of subsurface voids after oxidation. In this present study, oxidised specimens of the Ni based superalloy, RR1000, were subjected to conventional sample preparation as well as both dual and single beam FIB preparation, with the aim of re-examining the previous observations of subsurface void formation. It is clear from FIB preparations that features previously interpreted as networks of voids have been demonstrated to be internal oxides by varying the sample tilt angles and imaging signal using either secondary electrons (SEs) or secondary ions (SIs). Conventional preparation methods illustrate the presence of subsurface alumina intrusions and the absence of voids, supporting previous evidence. The positive identification of voids and oxides by FIB can be complex and prone to misinterpretation and thus, the use of several imaging conditions and tilt angles must be used, along with conventional preparation methods, to confirm or refute the presence of voids underneath oxides.

Ämnesord och genrebeteckningar

  • Focussed ion beam; Ni based superalloy; Oxidation; Internal oxidation; Voids; SIMS
  • TECHNOLOGY
  • TEKNIKVETENSKAP

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Sun, J.F.University of Birmingham, England (författare)
  • Taylor, M.P.University of Birmingham, England (författare)
  • Evans, H.E.University of Birmingham, England (författare)
  • Bowen, P.University of Birmingham, England (författare)
  • Sumner, J.Cranfield University, England (författare)
  • Nicholls, J.R.Cranfield University, England (författare)
  • Simms, N.J.Cranfield University, England (författare)
  • Shollock, B.A.University of London Imperial Coll Science Technology and Med, England (författare)
  • Chater, R.J.University of London Imperial Coll Science Technology and Med, England (författare)
  • Foss, B.J.University of London Imperial Coll Science Technology and Med, England (författare)
  • Hardy, M.C.Rolls Royce PLC, England (författare)
  • Stekovic, SvjetlanaLinköpings universitet,Konstruktionsmaterial,Tekniska högskolan(Swepub:liu)svest75 (författare)
  • University of Birmingham, EnglandCranfield University, England (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Materials at High Temperature: Science Reviews 2000 Ltd.31:1, s. 27-330960-34091878-6413

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy