Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-106877" >
Characterization of...
Characterization of Boron Nitride Thin Films
-
- Chubarov, M. (författare)
- Linköpings universitet,Institutionen för fysik, kemi och biologi,Tekniska högskolan
-
- Pedersen, Henrik (författare)
- Linköpings universitet,Kemi,Tekniska högskolan
-
- Högberg, Hans (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
visa fler...
-
- Filippov, Stanislav (författare)
- Linköpings universitet,Funktionella elektroniska material,Tekniska högskolan
-
- Engelbrecht, J.A. A. (författare)
- Nelson Mandela Metropolitan University, Port Elizabeth, South Africa
-
- O'Connel, J. (författare)
- Nelson Mandela Metropolitan University, Port Elizabeth, South Africa
-
- Henry, Anne (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- IEEE, 2013
- 2013
- Engelska.
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Rhombohedral Boron Nitride layers were grown on sapphire substrate in a hot-wall CVD reactor. The characterization of those layers is reported and the results are discussed in correlation with the various growth parameters used.
Nyckelord
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- kon (ämneskategori)