Test Scheduling for Modular SOCs in an Abort-on-Fail Environment

↓ Direkt till sidans innehåll
↓ Direkt till sidans sekundära innehåll (sidomenyn)

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-24699" > Test Scheduling for...

1 av 1
Föregående post
Nästa post
Till träfflistan

LIBRIS Formathandbok (Information om MARC21)

Fältnamn	Indikatorer	Metadata
000		02790naa a2200385 4500
001		oai:DiVA.org:liu-24699
003		SwePub
008		091007s2005 \| \|\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|000 \|\|eng\|
024	7	a https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-246992 URI
040		a (SwePub)liu
041		a engb eng
042		9 SwePub
072	7	a ref2 swepub-contenttype
072	7	a kon2 swepub-publicationtype
100	1	a Ingelsson, Urbanu IDA Linköpings Universitet4 aut
245	1 0	a Test Scheduling for Modular SOCs in an Abort-on-Fail Environment
264	1	a Tallinn, Estonia :b IEEE Computer Society Press,c 2005
338		a print2 rdacarrier
520		a Complex SOCs are increasingly tested in a modular fashion, which enables us to record the yield-per-module. In this paper, we consider the yield-per-module as the pass probability of the module s manufacturing test. We use it to exploit the abort-on-fail feature of ATEs, in order to reduce the expected test application time. We present a model for expected test application time, which obtains increasing accuracy due to decreasing granularity of the abortable test unit. For a given SOC, with a modular test architecture consisting of wrappers and disjunct TAMs, and for given pass probabilities per module test, we schedule the tests on each TAM such that the expected test application time is minimized. We describe two heuristic scheduling approaches, one without and one with preemption. Experimental results for the ITC 02 SOC Test Benchmarks demonstrate the effectiveness of our approach, as we achieve up to 97% reduction in the expected test application time, without any modification to the SOC or ATE.
650	7	a NATURVETENSKAPx Data- och informationsvetenskapx Datavetenskap0 (SwePub)102012 hsv//swe
650	7	a NATURAL SCIENCESx Computer and Information Sciencesx Computer Sciences0 (SwePub)102012 hsv//eng
653		a testing
653		a systems-on-chip
653		a yield-per-module
653		a TAM
653		a test scheduling
653		a Computer science
653		a Datavetenskap
700	1	a Goel, Sandeep Kumaru IC Design Digital Design and Test Philips Research Labs4 aut
700	1	a Larsson, Erik,d 1966-u Linköpings universitet,Tekniska högskolan,ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system4 aut0 (Swepub:liu)erila46
700	1	a Marinissen, Erik Janu IC Design Digital Design and Test Philips Research Labs4 aut
710	2	a IDA Linköpings Universitetb IC Design Digital Design and Test Philips Research Labs4 org
773	0	t IEEE European Test Symposium ETS 05,2005d Tallinn, Estonia : IEEE Computer Society Press
856	4	u http://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/ets05_erila.pdf
856	4 8	u https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-24699

Till lärosätets databas

1 av 1
Föregående post
Nästa post
Till träfflistan

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...: Ingelsson, Urban; Goel, Sandeep Ku ...; Larsson, Erik, 1 ...; Marinissen, Erik ...

Om ämnet

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Data och informa ...; och Datavetenskap

Artiklar i publikationen: IEEE European Te ...

Av lärosätet: Linköpings universitet

Sök utanför SwePub

Sök vidare i:: Google; Google Book Search; Google Scholar

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

LIBRIS.kb.se