Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-63376" >
Micro-Raman spectro...
Micro-Raman spectroscopy as a voltage probe in AlGaN/GaN heterostructure devices: Determination of buffer resistances
-
- J T Simms, R J T (författare)
- University of Bristol
-
- Uren, M J (författare)
- QinetiQ Ltd
-
- Martin, T (författare)
- QinetiQ Ltd
-
visa fler...
-
- Powell, J (författare)
- QinetiQ Ltd
-
- Forsberg, Urban (författare)
- Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
-
- Lundskog, Anders (författare)
- Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
-
- Kakanakova-Georgieva, Anelia (författare)
- Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
-
- Janzén, Erik (författare)
- Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
-
- Kuball, M (författare)
- University of Bristol
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011
- 2011
- Engelska.
-
Ingår i: SOLID-STATE ELECTRONICS. - : Elsevier Science B.V., Amsterdam.. - 0038-1101. ; 55:1, s. 5-7
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- A time-resolved micro-Raman technique was developed to probe the transient voltage in the GaN buffer layer of AlGaN/GaN heterostructure devices. The transient potential distribution under Ohmic contacts of devices behaved like a capacitance-resistance coupled network, with a decrease in amplitude and phase shift of the potential as a function of operating voltage frequency. This phenomenon was used to extract a value of 0.6 M Omega/square for sheet resistance of the AIN nucleation layer at the GaN/SiC interface from the characteristic RC value of the network. This demonstrates the effectiveness of this voltage probe technique as a non-invasive method of characterizing nucleation layers.
Nyckelord
- AlGaN/GaN heterostructrure devices
- Raman spectroscopy
- Device characterization
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas