Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-65816" >
Standard-free compo...
Standard-free composition measurements of Alx In1–xN by low-loss electron energy loss spectroscopy
-
- Palisaitis, Justinas (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
- Hsiao, Ching-Lien (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
- Junaid, Muhammad (författare)
- Linköpings universitet,Institutionen för fysik, kemi och biologi,Tekniska högskolan
-
visa fler...
-
- Xie, Mengyao (författare)
- Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
-
- Darakchieva, Vanya (författare)
- Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
-
- Carlin, Jean-Francois (författare)
- Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne
-
- Grandjean, Nicolas (författare)
- Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne
-
- Birch, Jens (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
- Hultman, Lars (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
- Persson, Per O.Å. (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2010-12-22
- 2011
- Engelska.
-
Ingår i: physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters. - : Wiley. - 1862-6270 .- 1862-6254. ; 5:2, s. 50-52
- Relaterad länk:
-
https://liu.diva-por... (primary) (Raw object)
-
visa fler...
-
http://liu.diva-port...
-
https://urn.kb.se/re...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- We demonstrate a standard-free method to retrieve compositional information in Alx In1–xN thin films by measuring the bulk plasmon energy (Ep), employing electron energy loss spectroscopy (EELS) in a scanning transmission electron microscope (STEM). Two series of samples were grown by magnetron sputter epitaxy (MSE) and metal organic vapor phase epitaxy (MOVPE), which together cover the full com- positional range 0 ≤ x ≤ 1. Complementary compositional measurements were obtained using Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) and the lattice parameters were obtained by X-ray diffraction (XRD). It is shown that Ep follows a linear relation with respect to composition and lattice parameter between the alloying elements from AlN to InN allowing for straightforward compositional analysis.
Nyckelord
- AlInN;low-loss EELS;thin films;compositional analysis
- NATURAL SCIENCES
- NATURVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Palisaitis, Just ...
-
Hsiao, Ching-Lie ...
-
Junaid, Muhammad
-
Xie, Mengyao
-
Darakchieva, Van ...
-
Carlin, Jean-Fra ...
-
visa fler...
-
Grandjean, Nicol ...
-
Birch, Jens
-
Hultman, Lars
-
Persson, Per O.Å ...
-
visa färre...
- Artiklar i publikationen
-
physica status s ...
- Av lärosätet
-
Linköpings universitet