SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:ri-39930"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:ri-39930" > Structural and chem...

Structural and chemical imaging analysis of bitumen

Lu, Xiaohu (författare)
Nynas AB, Sweden
Sjövall, Peter (författare)
RISE,Kemi och material
Soenen, Hilde (författare)
Nynas NV, Belgium
visa fler...
Blom, Johan (författare)
Antwerp University, Belgium
Andersson, Martin (författare)
RISE,Yta, process och formulering
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2019-09-03
2021
Engelska.
Ingår i: International Journal on Road Materials and Pavement Design. - : Taylor and Francis Ltd.. - 1468-0629 .- 2164-7402. ; 22:4, s. 852-870
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Microstructures of bitumen surfaces (both air-cooled and fractured) were imaged by atomic force microscopy (AFM) and chemically characterised by time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS). For certain air-cooled bitumen surfaces, bee structures were observed by AFM, and chemical explanation by wax crystallisation was confirmed by TOF-SIMS analysis. Unlike the air-cooled surfaces, the fracture surfaces generally did not show clear structure patterns. Furthermore, TOF-SIMS analysis was conducted on the tube-like or worm structures which were generated by environmental scanning electron microscopy (ESEM) on the bitumen surfaces. In general, very small chemical differences were observed between the structured and unstructured areas, as well as between different areas of the structure. To understand the formation of the ESEM structures, possible contributing factors were examined, from which a mechanism involving electron-induced heating was proposed.

Nyckelord

AFM
bitumen
ESEM
microstructure
TOF-SIMS
wax
Atomic force microscopy
Bituminous materials
Cooling systems
Organic polymers
Scanning electron microscopy
Secondary ion mass spectrometry
Waxes
Contributing factor
Environmental scanning electron microscopies (ESEM)
Fracture surfaces
Time of flight secondary ion mass spectrometry
ToF SIMS
TOF-SIMS analysis
Chemical analysis

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Lu, Xiaohu
Sjövall, Peter
Soenen, Hilde
Blom, Johan
Andersson, Marti ...
Artiklar i publikationen
International Jo ...
Av lärosätet
RISE

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy