Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:su-69462" >
High-temperature cr...
High-temperature crystal structure and transport properties of the layered cuprates Ln(2)CuO(4), Ln=Pr, Nd and Sm
-
Kaluzhskikh, M. S. (författare)
-
Kazakov, S. M. (författare)
-
Mazo, G. N. (författare)
-
visa fler...
-
Istomin, S. Ya. (författare)
-
Antipov, E. V. (författare)
-
Gippius, A. A. (författare)
-
Fedotov, Yu. (författare)
-
Bredikhin, S. I. (författare)
-
- Liu, Yi (författare)
- Stockholms universitet,Institutionen för material- och miljökemi (MMK)
-
- Svensson, Gunnar (författare)
- Stockholms universitet,Institutionen för material- och miljökemi (MMK)
-
- Shen, Zhijian (författare)
- Stockholms universitet,Institutionen för material- och miljökemi (MMK)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- Elsevier BV, 2011
- 2011
- Engelska.
-
Ingår i: Journal of Solid State Chemistry. - : Elsevier BV. - 0022-4596 .- 1095-726X. ; 184:3, s. 698-704
- Relaterad länk:
-
https://su.diva-port... (primary) (Raw object)
-
visa fler...
-
http://su.diva-porta...
-
https://urn.kb.se/re...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- High-temperature crystal structure of the layered cuprates Ln(2)CuO(4), Ln = Pr, Nd and Sm with tetragonal T'-structure was refined using X-ray powder diffraction data. Substantial anisotropy of the thermal expansion behavior was observed in their crystal structures with thermal expansion coefficients (TEC) along a- and c-axis changing from TEC(a)/TEC(c)approximate to 1.37 (Pr) to 0.89 (Nd) and 0.72 (Sm). Temperature dependence of the interatomic distances in Ln(2)CuO(4) shows significantly lower expansion rate of the chemical bond between Pr and oxygen atoms (O1) belonging to CuO(2)-planes (TEC(Pr-O1)= 11.7 ppm K(-1)) in comparison with other cuprates: TEC (Nd-O1)=15.2 ppm K(-1) and TEC (Sm-O1)= 15.1 ppm K(-1). High-temperature electrical conductivity of Pr(2)CuO(4) is the highest one in the whole studied temperature range (298-1173 K): 0.1-108 S/cm for Pr(2)CuO(4), 0.07-23 S/cm for Nd(2)CuO(4) and 2 X 10(-4)-9 S/cm for Sm(2)CuO(4). The trace diffusion coefficient (D(T)) of oxygen for Pr(2)CuO(4) determined by isotopic exchange depth profile (IEDP) technique using secondary ion mass spectrometry (SIMS) varies in the range 7.2 X 10(-13) Cm(2)/S (973 K) and 3.8 X 10(-10) Cm(2)/S (1173 K) which are in between those observed for the manganese and cobalt-based perovskites.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Kemi (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Chemical Sciences (hsv//eng)
Nyckelord
- High-temperature crystal structure
- High-temperature conductivity
- Cuprates
- Oxygen diffusion
- SIMS
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Kaluzhskikh, M. ...
-
Kazakov, S. M.
-
Mazo, G. N.
-
Istomin, S. Ya.
-
Antipov, E. V.
-
Gippius, A. A.
-
visa fler...
-
Fedotov, Yu.
-
Bredikhin, S. I.
-
Liu, Yi
-
Svensson, Gunnar
-
Shen, Zhijian
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- NATURVETENSKAP
-
NATURVETENSKAP
-
och Kemi
- Artiklar i publikationen
-
Journal of Solid ...
- Av lärosätet
-
Stockholms universitet