SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-171983"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-171983" > A simple TEM method...

A simple TEM method for fast thickness characterization of suspendedgraphene flakes

Akhtar, Sultan (författare)
Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Electron Microscopy and Nanoengineering
Rubino, Stefano (författare)
Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Electron Microscopy and Nanoengineering
Leifer, Klaus (författare)
Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap,Electron Microscopy and Nanoengineering
 (creator_code:org_t)
Engelska.
  • Annan publikation (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Nanoteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Nano-technology (hsv//eng)
NATURVETENSKAP  -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)

Publikations- och innehållstyp

vet (ämneskategori)
ovr (ämneskategori)

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Akhtar, Sultan
Rubino, Stefano
Leifer, Klaus
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Nanoteknik
NATURVETENSKAP
NATURVETENSKAP
och Fysik
och Den kondenserade ...
Av lärosätet
Uppsala universitet

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy