Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-258272" > Influence of silico...
Fältnamn | Indikatorer | Metadata |
---|---|---|
000 | 00932naa a2200253 4500 | |
001 | oai:DiVA.org:uu-258272 | |
003 | SwePub | |
008 | 150713s1988 | |||||||||||000 ||eng| | |
024 | 7 | a https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-2582722 URI |
040 | a (SwePub)uu | |
041 | a eng | |
042 | 9 SwePub | |
072 | 7 | a ref2 swepub-contenttype |
072 | 7 | a art2 swepub-publicationtype |
100 | 1 | a Nylander, JO4 aut |
245 | 1 0 | a Influence of silicon-sapphire interface defects on SOS MESFET beavior |
264 | 1 | c 1988 |
338 | a print2 rdacarrier | |
700 | 1 | a Magnusson, U4 aut |
700 | 1 | a Rosling, M4 aut |
700 | 1 | a Tove, PAu Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik4 aut |
710 | 2 | a Uppsala universitetb Fasta tillståndets elektronik4 org |
773 | 0 | t Solid-State Electronicsg 31:10, s. 1493-1496q 31:10<1493-1496x 0038-1101x 1879-2405 |
856 | 4 8 | u https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-258272 |
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy