onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-285833"
Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-285833" > The visualization o...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
The visualization of Silicon nanoparticles by 3D electron tomography: use of mass-thickness contrast bright field imaging
-
- Xie, Ling (författare)
- Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap
-
- Rubino, Stefano (författare)
- Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap
-
- Barbe, Jeremy (författare)
- CEA, LITEN, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble Cedex 9, France
- visa fler...
- Makasheva, Kremena (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2012
- 2012
- Engelska.
- Konferensbidrag (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Nyckelord
- Electron tomography
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- kon (ämneskategori)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Xie, Ling
- Rubino, Stefano
- Barbe, Jeremy
- Faucherand, Pasc ...
- Makasheva, Kreme ...
- Morin, Christine
- visa fler...
- Perraud, Simon
- Leifer, Klaus
- visa färre...
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
