Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-36711" >
Large-scale atomist...
Large-scale atomistic modeling of nanoelectronic structures
-
- Nakano, A (författare)
- Uppsala universitet,Neutronforskningslaboratoriet i Studsvik
-
Bachlechner, ME (författare)
-
Branicio, P (författare)
-
visa fler...
-
Campbell, TJ (författare)
-
Ebbsjo, I (författare)
-
Kalia, RK (författare)
-
Madhukar, A (författare)
-
Ogata, S (författare)
-
Omeltchenko, A (författare)
-
Rino, JP (författare)
-
Shimojo, F (författare)
-
Walsh, P (författare)
-
Vashishta, P (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 2000
- 2000
- Engelska.
-
Ingår i: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - : IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC. - 0018-9383. ; 47:10, s. 1804-1810
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Large-scale molecular-dynamics simulations are performed on parallel computers to study critical issues on ultrathin dielectric films and device reliability in nest decade semiconductor devices, New interatomic-potential models based on many-body, reactiv
Nyckelord
- dielectric films; nanotechnology; parallel algorithms; semiconductor defects; stress; MOLECULAR-DYNAMICS SIMULATIONS; ELECTRONIC-STRUCTURE; MECHANICAL-BEHAVIOR; PARALLEL COMPUTERS; SILICON-NITRIDE; FILMS; MORPHOLOGY; INTERFACES; POTENTIALS; GAAS
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Nakano, A
-
Bachlechner, ME
-
Branicio, P
-
Campbell, TJ
-
Ebbsjo, I
-
Kalia, RK
-
visa fler...
-
Madhukar, A
-
Ogata, S
-
Omeltchenko, A
-
Rino, JP
-
Shimojo, F
-
Walsh, P
-
Vashishta, P
-
visa färre...
- Artiklar i publikationen
-
IEEE TRANSACTION ...
- Av lärosätet
-
Uppsala universitet