Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-70744" >
Soft x-ray emission...
Soft x-ray emission studies of the bulk electronic structure of AlN, GaN, and Al0.5Ga0.5N
-
- Smith, KE (författare)
- Uppsala universitet
-
- Duda, LC (författare)
- Uppsala universitet
-
- Stagarescu, CB (författare)
- Uppsala universitet
-
visa fler...
-
- Downes, J (författare)
- Uppsala universitet
-
- Korakakis, D (författare)
- Uppsala universitet
-
- Singh, R (författare)
- Uppsala universitet
-
- Moustakas, TD (författare)
- Uppsala universitet
-
- Guo, JH (författare)
- Uppsala universitet
-
- Nordgren, J (författare)
- Uppsala universitet
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- AMER INST PHYSICS, 1998
- 1998
- Engelska.
-
Ingår i: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B. - : AMER INST PHYSICS. - 1071-1023. ; 16:4, s. 2250-2253
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The electronic structure of wurtzite GaN, Al0.5Ga0.5N, and AlN has been studied using synchrotron radiation excited soft x-ray emission spectroscopy. In particular, the elementally resolved partial densities of states has been measured and found to agree
Nyckelord
- PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; WURTZITE GAN; FILMS; ALXGA1-XN; GROWTH; GAN(0001)-(1X1)
Publikations- och innehållstyp
- vet (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas