Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:1a998dd4-1569-4558-8a6a-7b6c954b0b93" >
EXAFS measurements ...
EXAFS measurements of metal-decorated nanocavities in Si
-
Azevedo, GD (författare)
-
Ridgway, MC (författare)
-
Betlehem, J (författare)
-
visa fler...
-
Yu, KM (författare)
-
- Glover, Chris (författare)
- Lund University,Lunds universitet,MAX IV-laboratoriet,MAX IV Laboratory
-
Foran, GJ (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2003
- 2003
- Engelska.
-
Ingår i: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. - 0168-583X. ; 199, s. 179-184
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10...
-
visa fler...
-
https://lup.lub.lu.s...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- This contribution presents a sample preparation methodology to enable the identification, with synchrotron radiation-based analytical techniques, of the gettering sites of metallic impurities on the internal walls of implantation-induced nanocavities in Si substrates. Preliminary results for the Cu-Si and Cu-Cu bond lengths on the internal surface of the nanocavities are reported. (C) 2002 Elsevier Science B.V. All rights reserved.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences (hsv//eng)
Nyckelord
- voids
- gettering
- silicon
- EXAFS
- cavities
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas