Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:7a69a57f-b9a4-40db-ab7d-e29090135b17" >
GHz sample excitati...
GHz sample excitation at the ALBA-PEEM
-
- Khaliq, Muhammad Waqas (författare)
- University of Barcelona,ALBA Synchrotron Light Facility
-
- Álvarez, José M. (författare)
- ALBA Synchrotron Light Facility
-
- Camps, Antonio (författare)
- ALBA Synchrotron Light Facility
-
visa fler...
-
- González, Nahikari (författare)
- ALBA Synchrotron Light Facility
-
- Ferrer, José (författare)
- ALBA Synchrotron Light Facility
-
- Martinez-Carboneres, Ana (författare)
- Lund University,Lunds universitet,MAX IV, Vakuum,MAX IV, Teknik I,MAX IV, Tekniska divisionen,MAX IV-laboratoriet,MAX IV, Vacuum,MAX IV, Engineering I,MAX IV, Technical division,MAX IV Laboratory
-
- Prat, Jordi (författare)
- ALBA Synchrotron Light Facility
-
- Ruiz-Gómez, Sandra (författare)
- Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids
-
- Niño, Miguel Angel (författare)
- ALBA Synchrotron Light Facility
-
- Macià, Ferran (författare)
- University of Barcelona
-
- Aballe, Lucia (författare)
- ALBA Synchrotron Light Facility
-
- Foerster, Michael (författare)
- ALBA Synchrotron Light Facility
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2023
- 2023
- Engelska.
-
Ingår i: Ultramicroscopy. - 0304-3991. ; 250
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10...
-
visa fler...
-
https://lup.lub.lu.s...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- We describe a setup that is used for high-frequency electrical sample excitation in a cathode lens electron microscope with the sample stage at high voltage as used in many synchrotron light sources. Electrical signals are transmitted by dedicated high-frequency components to the printed circuit board supporting the sample. Sub-miniature push-on connectors (SMP) are used to realize the connection in the ultra-high vacuum chamber, bypassing the standard feedthrough. A bandwidth up to 4 GHz with -6 dB attenuation was measured at the sample position, which allows to apply sub-nanosecond pulses. We describe different electronic sample excitation schemes and demonstrate a spatial resolution of 56 nm employing the new setup.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- Cathode lens microscopy
- Electronic modules
- High frequency electrical excitations
- LEEM-PEEM
- Sample environment
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Khaliq, Muhammad ...
-
Álvarez, José M.
-
Camps, Antonio
-
González, Nahika ...
-
Ferrer, José
-
Martinez-Carbone ...
-
visa fler...
-
Prat, Jordi
-
Ruiz-Gómez, Sand ...
-
Niño, Miguel Ang ...
-
Macià, Ferran
-
Aballe, Lucia
-
Foerster, Michae ...
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Elektroteknik oc ...
-
och Annan elektrotek ...
- Artiklar i publikationen
-
Ultramicroscopy
- Av lärosätet
-
Lunds universitet