SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:891585d0-ca90-4395-8de1-9eecd2aae6ac"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:891585d0-ca90-4395-8de1-9eecd2aae6ac" > The thickness of na...

  • Evertsson, JonasLund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH (författare)

The thickness of native oxides on aluminum alloys and single crystals

  • Artikel/kapitelEngelska2015

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Elsevier BV,2015

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:lup.lub.lu.se:891585d0-ca90-4395-8de1-9eecd2aae6ac
  • https://lup.lub.lu.se/record/7790984URI
  • https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2015.05.043DOI
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-171245URI
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kau:diva-63729URI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Anmärkningar

  • QC 20150728
  • We present results from measurements of the native oxide film thickness on four different industrial aluminum alloys and three different aluminum single crystals. The thicknesses were determined using X-ray reflectivity, X-ray photoelectron spectroscopy, and electrochemical impedance spectroscopy. In addition, atomic force microscopy was used for micro-structural studies of the oxide surfaces. The reflectivity measurements were performed in ultra-high vacuum, vacuum, ambient, nitrogen and liquid water conditions. The results obtained using X-ray reflectivity and X-ray photoelectron spectroscopy demonstrate good agreement. However, the oxide thicknesses determined from the electrochemical impedance spectroscopy show a larger discrepancy from the above two methods. In the present contribution the reasons for this discrepancy are discussed. We also address the effect of the substrate type and the presence of water on the resultant oxide thickness.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Bertram, FlorianLund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-flb (författare)
  • Zhang, FanKTH,Yt- och korrosionsvetenskap(Swepub:kth)u1vmg9ao (författare)
  • Rullik, LisaLund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-lru (författare)
  • Merte, LindsayLund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-lmt (författare)
  • Shipilin, MikhailLund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-msh (författare)
  • Soldemo, MarkusKTH,Materialfysik, MF(Swepub:kau)marksold (författare)
  • Ahmadi, SarehKTH,Materialfysik, MF(Swepub:kth)u13d2656 (författare)
  • Vinogradov, N.ESRF, France (författare)
  • Carla, F.ESRF, France (författare)
  • Weissenrieder, JonasKTH,Materialfysik, MF(Swepub:kth)u1dg6qtm (författare)
  • Götelid, MatsKTH,Materialfysik, MF(Swepub:kth)u1uq5dqb (författare)
  • Pan, JinshanKTH,Yt- och korrosionsvetenskap(Swepub:kth)u17ks6cf (författare)
  • Mikkelsen, AndersLund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-ami (författare)
  • Nilsson, J. -O.Sapa Technology, Sweden (författare)
  • Lundgren, EdvinLund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-elu (författare)
  • SynkrotronljusfysikFysiska institutionen (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Applied Surface Science: Elsevier BV349, s. 826-8321873-55840169-4332

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy