Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:06df6752-6627-4653-b87e-1eec1394d4bc" >
Multiparameter admi...
Multiparameter admittance spectroscopy (Invited)
-
- Engström, Olof, 1943 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Raeissi, Bahman, 1979 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
(creator_code:org_t)
- ISBN 9781566778220
- The Electrochemical Society, 2010
- 2010
- Engelska.
-
Ingår i: ECS Transactions. - : The Electrochemical Society. - 1938-5862 .- 1938-6737. - 9781566778220 ; 35:3, s. 257-265
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://research.cha...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Multiparameter admittance spectroscopy is described for investigating interface state properties of metal-oxide-semiconductor structures. In the conductance mode of this method, it allows for obtaining three-dimensional or contour plots of conductance data which reveal the mechanisms for capture of charge carriers into the interface states.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas