SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:25398554-d8c3-4dd5-8d92-f4618701a45d"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:25398554-d8c3-4dd5-8d92-f4618701a45d" > An STM – SEM setup ...

  • Holmér, Jonatan,1990Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology (författare)

An STM – SEM setup for characterizing photon and electron induced effects in single photovoltaic nanowires

  • Artikel/kapitelEngelska2018

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Elsevier BV,2018
  • electronicrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:research.chalmers.se:25398554-d8c3-4dd5-8d92-f4618701a45d
  • https://research.chalmers.se/publication/504820URI
  • https://doi.org/10.1016/j.nanoen.2018.08.037DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Anmärkningar

  • Vertical arrays of semiconductor nanowires show great potential for material-efficient and high-performance solar cells. The characterization and correlation between material structure and properties of the individual nanowires are crucial for the continued performance improvement of such devices. In this work, we developed a method with a scanning tunneling microscope (STM) probe inside a scanning electron microscope (SEM) to enable the studies of single photovoltaic nanowires. The STM probe is used to contact individual nanowires in ensembles. We combine the STM-SEM with an in situ light emitting diode (LED) illumination source to study both the electrical and photovoltaic properties of vertical GaAs nanowires with radial p-i-n junctions. We also illustrate that the local charge separation ability within the nanowires can be studied by electron beam induced current (EBIC) measurements. The in situ SEM setup allows the correlation between properties and nanowire structure. The data show that the quality of the electrical contact to the semiconductor nanowire is crucial to be able to investigate the inherent properties of the nanowires. We have established a procedure to make high-quality ohmic contacts to the nanowires with the STM probe. We also show that the effect of mechanical strain on the electrical properties can be investigated by the STM-SEM setup.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Zeng, Lunjie,1983Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)lunjie (författare)
  • Kanne, T.Niels Bohr Institute (författare)
  • Krogstrup, P.Niels Bohr Institute (författare)
  • Nygard, J.Niels Bohr Institute (författare)
  • De Knoop, Ludvig,1972Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)f00lude (författare)
  • Olsson, Eva,1960Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)f10eva (författare)
  • Chalmers tekniska högskolaNiels Bohr Institute (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Nano Energy: Elsevier BV53, s. 175-1812211-2855

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy