Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:91bceab8-4324-4f0c-bc6c-528b54ecbdda" >
XPS Depth Profiling...
XPS Depth Profiling of Air-Oxidized Nanofilms of NbN on GaN Buffer-Layers
-
- Lubenchenko, AV, 1966 (författare)
- National Research University Moscow Power Engineering Institute
-
- Batrakov, AA (författare)
- National Research University Moscow Power Engineering Institute
-
- Krause, Sascha, 1989 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa fler...
-
- Pavolotskiy, Alexey, 1968 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Shurkaeva, IV (författare)
- National Research University Moscow Power Engineering Institute
-
- Ivanov, DA (författare)
- National Research University Moscow Power Engineering Institute
-
- Lubenchenko, OI (författare)
- National Research University Moscow Power Engineering Institute
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2017-11-23
- 2017
- Engelska.
-
Ingår i: Journal of Physics: Conference Series. - : IOP Publishing. - 1742-6588 .- 1742-6596. ; 917:9
- Relaterad länk:
-
http://publications.... (primary) (free)
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://research.cha...
-
https://research.cha...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- XPS depth chemical and phase profiling of an air-oxidized niobium nitride thin film on a buffer-layer GaN is performed. It is found that an intermediate layer of Nb5N6 and NbON x under the layer of niobium oxide is generated.I
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas