Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:ab6b9f9c-0ddf-4acc-843c-76eb5ee04053" >
Note: Fast and reli...
Note: Fast and reliable fracture strain extraction technique applied to silicon at nanometer scale
-
- Passi, V. (författare)
- Universite catholique de Louvain,IEMN Institut d'Electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie
-
- Bhaskar, U. (författare)
- Universite catholique de Louvain
-
- Pardoen, T. (författare)
- Universite catholique de Louvain
-
visa fler...
-
- Södervall, Ulf, 1954 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Nilsson, Bengt, 1954 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Petersson, Göran, 1946 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Hagberg, Mats, 1962 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Raskin, Jean-Pierre (författare)
- Universite catholique de Louvain
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- AIP Publishing, 2011
- 2011
- Engelska.
-
Ingår i: Review of Scientific Instruments. - : AIP Publishing. - 1089-7623 .- 0034-6748. ; 82:11, s. art. no 116106-
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10...
-
visa fler...
-
https://research.cha...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Simple fabrication process and extraction procedure to determine the fracture strain of monocrystalline silicon are demonstrated. Nanowires/nanoribbons in silicon are fabricated and subjected to uniaxial tensile stress along the complete length of the beams. Large strains up to 5% are measured for nanowires presenting a cross section of 50 nm × 50 nm and a length of 2.5 μm. An increase in fracture strain for silicon nanowires (NWs) with the downscaling of their volume is observed, highlighting the reduction of the defects probability as volume is decreased.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Passi, V.
-
Bhaskar, U.
-
Pardoen, T.
-
Södervall, Ulf, ...
-
Nilsson, Bengt, ...
-
Petersson, Göran ...
-
visa fler...
-
Hagberg, Mats, 1 ...
-
Raskin, Jean-Pie ...
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Elektroteknik oc ...
- Artiklar i publikationen
-
Review of Scient ...
- Av lärosätet
-
Chalmers tekniska högskola