onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:b58dbd8e-38a1-4901-8245-a571866e1ae1"
Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:b58dbd8e-38a1-4901-8245-a571866e1ae1" > The influence of in...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
- Kaczmarczyk, M. (författare)
The influence of inhomogeneous trap distribution on results of DLTS study
- Artikel/kapitelEngelska2011
Förlag, utgivningsår, omfång ...
- Elsevier BV,2011
Nummerbeteckningar
- LIBRIS-ID:oai:research.chalmers.se:b58dbd8e-38a1-4901-8245-a571866e1ae1
- https://doi.org/10.1016/j.microrel.2011.01.011DOI
- https://research.chalmers.se/publication/143900URI
Kompletterande språkuppgifter
- Språk:engelska
- Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
- SwePubSwePub
Klassifikation
Anmärkningar
- A model is developed to describe how a narrow distribution of deep traps adjacent to quantum dots (QDs) influences the trap-related signals measured by frequency scanned deep level transient spectroscopy (FS-DLTS). By comparison with experiment, it is demonstrated that traps with a steep concentration gradient, positioned in the so called transition layer close to the edge of the depletion region ("lambda-effect"), have a strong influence on DLTS signal amplitudes. This is manifested by an extreme sensitivity to the change in the Fermi-level position when temperature is varied.
Ämnesord och genrebeteckningar
- NATURVETENSKAP Fysik hsv//swe
- NATURAL SCIENCES Physical Sciences hsv//eng
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER Elektroteknik och elektronik hsv//swe
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering hsv//eng
- electron traps
- v7
- spectroscopy
- 1989
- molecular-beam epitaxy
- p399
- semiconductors
- and n
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
- Kaniewska, M. (författare)
- Engström, Olof,1943Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)oleng (författare)
- Chalmers tekniska högskola (creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
- Ingår i:Microelectronics and Reliability: Elsevier BV51:7, s. 1159-11610026-2714
Internetlänk
Hitta via bibliotek
- Microelectronics and Reliability (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Kaczmarczyk, M.
- Kaniewska, M.
- Engström, Olof, ...
- Om ämnet
-
- NATURVETENSKAP
- NATURVETENSKAP
- och Fysik
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
- Artiklar i publikationen
- Microelectronics ...
- Av lärosätet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
