SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:bbf2bc96-a619-45da-9cf2-37aff648a9f4"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:bbf2bc96-a619-45da-9cf2-37aff648a9f4" > Leakage current eff...

  • Lu, Y (författare)

Leakage current effects on C-V plots of high-k MOS capacitors

  • Artikel/kapitelEngelska2008

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • 2008

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:research.chalmers.se:bbf2bc96-a619-45da-9cf2-37aff648a9f4
  • https://research.chalmers.se/publication/87419URI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:kon swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Hall, S. (författare)
  • Mitrovic, I. Z. (författare)
  • Davey, W.M. (författare)
  • Raeissi, Bahman,1979Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)raeissin (författare)
  • Engström, Olof,1943Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)oleng (författare)
  • Cherkaoui, K. (författare)
  • Monaghan, S (författare)
  • Hurley, P.K. (författare)
  • Gottlob, H.D.B. (författare)
  • Lemme, M.C. (författare)
  • Chalmers tekniska högskola (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:WODIM, Berlin, June 2008

Internetlänk

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy