SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:c999157f-98e0-4898-a96f-3ffb374c2fd6"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:c999157f-98e0-4898-a96f-3ffb374c2fd6" > High-Q Ku-band Micr...

High-Q Ku-band Microstrip Spiral Resonator in Fan-out Wafer-Level Packaging (FoWLP) Technology for VCO Applications

Chernobryvko, Mykola (författare)
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration - IZM,Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration - IZM
Kaiser, Michael P. (författare)
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration - IZM,Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration - IZM
Murugesan, Kavin Senthil (författare)
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration - IZM,Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration - IZM
visa fler...
Kuylenstierna, Dan, 1976 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
Koszegi, Julia Marie (författare)
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration - IZM,Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration - IZM
Gernhardt, Robert (författare)
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration - IZM,Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration - IZM
Braun, Tanja (författare)
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration - IZM,Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration - IZM
Ndip, Ivan (författare)
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration - IZM,Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration - IZM
Schneider-Ramelow, Martin (författare)
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration - IZM,Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration - IZM
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2023
2023
Engelska.
Ingår i: Advancing Microelectronics. - 2222-8748. ; 2023:Special issue EMPC, s. 57-60
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • In this paper, a planar spiral resonator operating at 13 GHz is investigated. The resonator was fabricated using fan-out wafer level packaging (FoWLP) technology. The field analysis highlights the importance of via fence. Two thick film resistors suppress an undesired resonance in proximity of targeted one. The measurements demonstrate a very good correlation in comparison with full-wave simulations. The measured Q-factor defined based on analysis of feedback oscillatory system is about 48. The proposed configuration is suitable for voltage-controlled oscillators (VCOs) with a resonator realized in package.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Kommunikationssystem (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Communication Systems (hsv//eng)
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

Q-factor
Ku-band
fan-out wafer level packaging
resonator
VCO

Publikations- och innehållstyp

art (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy