onr:"99797"
Sökning: onr:"99797" > Semiconductor measu...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
| Fältnamn | Indikatorer | Metadata |
|---|---|---|
| 000 | 01112nam a22002897 r4500 | |
| 001 | 99797 | |
| 003 | SE-LIBR | |
| 008 | 011211s1984 xxu 000 0 eng c | |
| 035 | 9 9904668035 | |
| 040 | a L | |
| 080 | a 621.315.592(021) | |
| 080 | a 53.08(021) | |
| 245 | 0 0 | a Semiconductor measurement technology.p TXYZ: a program for semiconductor IC thermal analysis /c John Albers |
| 260 | a Washington,c 1984 | |
| 300 | a iv, 61 s. | |
| 599 | a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer | |
| 650 | 4 | a Halvledare: elektroteknik |
| 740 | 0 | a TXYZ: a program for semiconductor IC thermal analysis |
| 772 | 0 0 | 7 nnt Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 99009586089 76 |
| 841 | 5 La xa ab 0201070u 0 4000uu |000000e 3 | |
| 080 | 5 La 621.315.592(021) | |
| 080 | 5 La 53.08(021) | |
| 650 | 4 | 5 La Halvledare: elektroteknik |
| 650 | 4 | 5 La Mätteknik |
| 852 | 5 Lb Lh pPj 3521:400 | |
| 852 | 5 L8 1.1\cb Lh pPj 3521:, 400:76 | |
| 866 | 5 La 1974-x Vissa delar specificerade |
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
